加圧によるトロイダルコイルのインダクタンスと格子の変化

藤井暁,森嘉久,財部健一,河野健二

日本物理学会

東大阪

積層チップインダクタ(MLCC)に使用されているNiZnCuフェライトは圧力を加えることにより透磁率が下がる。しかし、この透磁率低下の原因をミクロで調べている実験はあまりない。本研究では、透磁率低下の原因を探るためフェライトのトロイダルコイルに圧力を加え、透磁率が下がるときの格子定数の変化を放射光を用いたX線回折実験によって評価し、その関係を調べた。