大規模ハードウェアIPへのモデル検査の適用事例
森光勇太横川智教近藤真史宮崎仁佐藤洋一郎有本和民
電気・情報関連学会中国支部連合大会講演論文集(CD-ROM)
66th
https://jglobal.jst.go.jp/detail?JGLOBAL_ID=201502208137307499http://jglobal.jst.go.jp/public/201502208137307499