論文

基本情報

氏名 横平 徳美
氏名(カナ) ヨコヒラ トクミ
氏名(英語) Yokohira Tokumi
所属 情報理工学部 情報理工学科
職名 教授
researchmap研究者コード 1000035612
researchmap機関 岡山理科大学

題名

Testing for the Programming Circuit of LUT-Based FPGAs

単著・共著の別

 

著者

Hiroyuki Michinishi
Tokumi Yokohira
Takuji Okamoto
Tomoo Inoue
Hideo Fujiwara

概要

 

発表雑誌等の名称

Proc. Sixth Asian Test Symposium (ATS ''97)

出版者

 

pp.242-247

 

開始ページ

 

終了ページ

 

発行又は発表の年月

1996-11

査読の有無

有り

招待の有無

無し

記述言語

 

掲載種別

 

ISSN

 

ID:DOI

 

ID:NAID(CiNiiのID)

 

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URL

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