論文

基本情報

氏名 横平 徳美
氏名(カナ) ヨコヒラ トクミ
氏名(英語) Yokohira Tokumi
所属 情報理工学部 情報理工学科
職名 教授
researchmap研究者コード 1000035612
researchmap機関 岡山理科大学

題名

Universal Test Complexity of Field-Programmable Gate Arrays

単著・共著の別

 

著者

INOUE T.

概要

 

発表雑誌等の名称

Proceeding of the Fourth Asian Test Symposium

出版者

 

pp.259-265

 

開始ページ

259

終了ページ

265

発行又は発表の年月

1995-11

査読の有無

有り

招待の有無

無し

記述言語

 

掲載種別

 

ISSN

 

ID:DOI

 

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JGlobalID

 

arXiv ID

 

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