論文

基本情報

氏名 横平 徳美
氏名(カナ) ヨコヒラ トクミ
氏名(英語) Yokohira Tokumi
所属 情報理工学部 情報理工学科
職名 教授
researchmap研究者コード 1000035612
researchmap機関 岡山理科大学

題名

Minimum Verification Test Set for Combinational Circuits

単著・共著の別

 

著者

Michinishi Hiroyuki
Yokohira Tokumi
Okamoto Takuji

概要

A sufficient condition under which a minimum verification test set (MVTS) for a combinational circuit has 2w elements is derived, where w is the maximum number of inputs on which any output depends, and an algorithm to find an NVTS with 2w elements for any CUT with up to four outputs is described

発表雑誌等の名称

Proc. First Asian Test Symposium (ATS ''92)

出版者

 

pp.14-19

 

開始ページ

14

終了ページ

19

発行又は発表の年月

1992-11

査読の有無

有り

招待の有無

無し

記述言語

英語

掲載種別

 

ISSN

 

ID:DOI

10.1109/ATS.1992.224428

ID:NAID(CiNiiのID)

 

ID:PMID

 

JGlobalID

 

arXiv ID

 

ORCIDのPut Code

 

DBLP ID