論文

基本情報

氏名 横平 徳美
氏名(カナ) ヨコヒラ トクミ
氏名(英語) Yokohira Tokumi
所属 情報理工学部 情報理工学科
職名 教授
researchmap研究者コード 1000035612
researchmap機関 岡山理科大学

題名

Detection of CMOS open node defects by frequency analysis

単著・共著の別

 

著者

Hiroyuki Michinishi
Tokumi Yokohira
Takuji Okamoto
Toshifumi Kobayashi
Tsutomu Hondo

概要

 

発表雑誌等の名称

IEICE TRANSACTIONS ON INFORMATION AND SYSTEMS

出版者

 

E90D

3

開始ページ

685

終了ページ

687

発行又は発表の年月

2007-03

査読の有無

有り

招待の有無

無し

記述言語

英語

掲載種別

研究論文(学術雑誌)

ISSN

 

ID:DOI

10.1093/ietisy/e90-d.3.685

ID:NAID(CiNiiのID)

 

ID:PMID

 

JGlobalID

 

arXiv ID

 

ORCIDのPut Code

 

DBLP ID