論文

基本情報

氏名 横平　徳美
氏名（カナ） ヨコヒラ　トクミ
氏名（英語） Yokohira　Tokumi
所属 情報理工学部 情報理工学科
職名 教授
researchmap研究者コード 1000035612
researchmap機関 岡山理科大学

題名 

CMOS floating gate defect detection using I-DDQ test with DC power supply superposed by AC component

					

					

						

							

								

									
単著・共著の別 

									
								

							

						

						
 

					

					

						

							

								

									
著者 

									
								

							

						

						
H Michinishi
T Yokohira
T Okamoto
T Kobayashi
T Hondo

					

					

						

							

								

									
概要 

									
								

							

						

						
 

					

					

						

							

								

									
発表雑誌等の名称 

									
								

							

						

						
PROCEEDINGS OF THE 11TH ASIAN TEST SYMPOSIUM (ATS 02)

					

					

						

							

								

									
出版者 

									
								

							

						

						
 

					

					

						

							

								

									
巻 

									
								

							

						

						
 

					

					

						

							

								

									
号 

									
								

							

						

						
 

					

					

						

							

								

									
開始ページ 

									
								

							

						

						
417

					

					

						

							

								

									
終了ページ 

									
								

							

						

						
422

					

					

						

							

								

									
発行又は発表の年月 

									
								

							

						

						
2002

					

					

						

							

								

									
査読の有無 

									
								

							

						

						
有り

					

					

						

							

								

									
招待の有無 

									
								

							

						

						
無し

					

					

						

							

								

									
記述言語 

									
								

							

						

						
英語

					

					

						

							

								

									
掲載種別 

									
								

							

						

						
研究論文（国際会議プロシーディングス）

					

					

						

							

								

									
ISSN 

									
								

							

						

						
 

					

					

						

							

								

									
ID:DOI 

									
								

							

						

						
10.1109/ATS.2002.1181747

					

					

						

							

								

									
ID:NAID(CiNiiのID) 

									
								

							

						

						
 

					

					

						

							

								

									
ID:PMID 

									
								

							

						

						
 

					

					
					

						

							

								

									
JGlobalID 

									
								

							

						

						
 

					

					

						

							

								

									
arXiv ID 

									
								

							

						

						
 

					

					

						

							

								

									
ORCIDのPut Code 

									
								

							

						

						
 

					

					

						

							

								

									
DBLP ID