論文

基本情報

氏名 道西 博行
氏名(カナ) ミチニシ ヒロユキ
氏名(英語) Michinishi Hiroyuki
所属 工学部 電気電子システム学科
職名 准教授
researchmap研究者コード 1000186932
researchmap機関 岡山理科大学

題名

CMOS Floating Gate Defect Detection Using Supply Current Test with DC Power Suply Superposed by AC Component

単著・共著の別

著者

H.Michinishi, T.Yokohira, T.Okamoto, T.Kobayashi and T.Hondo

概要




発表雑誌等の名称

IEICE Trans. on Information and Systems

出版者

Vol.J87-D

No.3

開始ページ

551

終了ページ

556

発行又は発表の年月

2004/03

査読の有無

有り

招待の有無

無し

記述言語

英語

掲載種別

研究論文(学術雑誌)

ISSN

ID:DOI

ID:NAID(CiNiiのID)

ID:PMID

URL

JGlobalID

arXiv ID

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DBLP ID