論文

基本情報

氏名 横平　徳美
氏名（カナ） ヨコヒラ　トクミ
氏名（英語） Yokohira　Tokumi
所属 情報理工学部 情報理工学科
職名 教授
researchmap研究者コード 1000035612
researchmap機関 岡山理科大学

題名 

Improvement of detectability for CMOS floating gate defects in supply current test

					

					

						

							

								

									
単著・共著の別 

									
								

							

						

						
 

					

					

						

							

								

									
著者 

									
								

							

						

						
H Michinishi
T Yokohira
T Okamoto
T Kobayashi
T Hondo

					

					

						

							

								

									
概要 

									
								

							

						

						
 

					

					

						

							

								

									
発表雑誌等の名称 

									
								

							

						

						
ATS 2003: 12TH ASIAN TEST SYMPOSIUM, PROCEEDINGS

					

					

						

							

								

									
出版者 

									
								

							

						

						
 

					

					

						

							

								

									
巻 

									
								

							

						

						
 

					

					

						

							

								

									
号 

									
								

							

						

						
 

					

					

						

							

								

									
開始ページ 

									
								

							

						

						
406

					

					

						

							

								

									
終了ページ 

									
								

							

						

						
409

					

					

						

							

								

									
発行又は発表の年月 

									
								

							

						

						
2003

					

					

						

							

								

									
査読の有無 

									
								

							

						

						
有り

					

					

						

							

								

									
招待の有無 

									
								

							

						

						
無し

					

					

						

							

								

									
記述言語 

									
								

							

						

						
英語

					

					

						

							

								

									
掲載種別 

									
								

							

						

						
研究論文（国際会議プロシーディングス）

					

					

						

							

								

									
ISSN 

									
								

							

						

						
 

					

					

						

							

								

									
ID:DOI 

									
								

							

						

						
10.1109/ATS.2003.1250846

					

					

						

							

								

									
ID:NAID(CiNiiのID) 

									
								

							

						

						
 

					

					

						

							

								

									
ID:PMID 

									
								

							

						

						
 

					

					
					

						

							

								

									
JGlobalID 

									
								

							

						

						
 

					

					

						

							

								

									
arXiv ID 

									
								

							

						

						
 

					

					

						

							

								

									
ORCIDのPut Code 

									
								

							

						

						
 

					

					

						

							

								

									
DBLP ID