講演・口頭発表等

基本情報

氏名 道西　博行
氏名（カナ） ﾐﾁﾆｼ ﾋﾛﾕｷ
氏名（英語） Michinishi Hiroyuki
所属 工学部 電気電子ｼｽﾃﾑ学科
職名 准教授
researchmap研究者コード 1000186932
researchmap機関 岡山理科大学

タイトル 

Improvement of Detectability for CMOS Floating Gate Defects in Supply Current Test

					

					

						

							

								

									
講演者 

									
								

							

						

						
H.Michinishi, T.Yokohira, T.Okamoto, T.Kobayashi, T.Hondo

					

					

						

							

								

									
会議名 

									
								

							

						

						
IEEE Asian Test Symposium

					

					

						

							

								

									
開催年月日 

									
								

							

						

						
2003/11

					

					

						

							

								

									
招待の有無 

									
								

							

						

						

					

					

						

							

								

									
記述言語 

									
								

							

						

						
英語

					

					

						

							

								

									
発表種類 

									
								

							

						

						

					

					

						

							

								

									
会議区分 

									
								

							

						

						

					

					

						

							

								

									
会議種別 

									
								

							

						

						
口頭発表(一般)

					

					

						

							

								

									
主催者 

									
								

							

						

						

					

					

						

							

								

									
開催地 

									
								

							

						

						
西安

					

					

						

							

								

									
URL 

									
								

							

						

						

					

					

						

							

								

									
概要