論文

基本情報

氏名 道西 博行
氏名(カナ) ミチニシ ヒロユキ
氏名(英語) Michinishi Hiroyuki
所属 工学部 電気電子システム学科
職名 准教授
researchmap研究者コード 1000186932
researchmap機関 岡山理科大学

題名

Detection of CMOS Open Node Defects by Frequency Analysis

単著・共著の別

著者

H.Michinishi, T.Yokohira, T.Okamoto, T.Kobayashi and T.Hondo

概要




発表雑誌等の名称

IEICE Trans. on Information and Systems

出版者

E90-D

3

開始ページ

685

終了ページ

687

発行又は発表の年月

2007/03

査読の有無

有り

招待の有無

無し

記述言語

英語

掲載種別

研究論文(学術雑誌)

ISSN

ID:DOI

ID:NAID(CiNiiのID)

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URL

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DBLP ID